Peralatan pengukuran elektrod bateri litium
-
Tolok Pengukuran Ketumpatan Areal X-Ray Super
Pengukuran boleh disesuaikan dengan lebih daripada 1600 mm lebar salutan. Menyokong pengimbasan kelajuan ultra tinggi.
Ciri-ciri kecil seperti kawasan penipisan, calar, tepi seramik boleh dikesan.
-
Tolok ketebalan & ketumpatan kawasan bersepadu CDM
Proses salutan: pengesanan dalam talian bagi ciri-ciri kecil elektrod; ciri-ciri kecil biasa elektrod: kebuluran percutian (tiada kebocoran pengumpul arus, perbezaan kelabu kecil dengan kawasan salutan biasa, kegagalan pengenalan CCD), calar, kontur ketebalan kawasan penipisan, pengesanan ketebalan AT9 dsb.
-
Tolok ketebalan laser
Pengukuran ketebalan elektrod dalam proses salutan atau penggulungan bateri litium.
-
Tolok ketumpatan kawasan sinar-X/β
Menjalankan ujian tidak merosakkan dalam talian ke atas ketumpatan permukaan objek yang diukur dalam proses salutan elektrod bateri litium dan proses salutan seramik pemisah.
-
Tolok ketebalan & dimensi luar talian
Peralatan ini digunakan untuk ketebalan elektrod dan pengukuran dimensi dalam salutan, rolling atau proses lain bateri litium, dan boleh meningkatkan kecekapan dan konsistensi untuk pengukuran artikel pertama dan terakhir dalam proses salutan dan menawarkan kaedah yang boleh dipercayai dan mudah untuk kawalan kualiti elektrod.
-
Profilometer 3D
Peralatan ini digunakan terutamanya untuk kimpalan tab bateri litium, bahagian auto, bahagian elektronik 3C dan ujian keseluruhan 3C dan lain-lain, dan merupakan sejenis peralatan pengukur ketepatan tinggi dan boleh memudahkan pengukuran.
-
Tolok kerataan filem
Uji kesamaan ketegangan untuk bahan kerajang dan pemisah, dan bantu pelanggan memahami sama ada ketegangan pelbagai bahan filem adalah konsisten dengan mengukur tepi gelombang dan tahap roll-off bahan filem.
-
Tolok ketebalan gangguan optik
Ukur salutan filem optik, wafer suria, kaca ultra-nipis, pita pelekat, filem Mylar, pelekat optik OCA, dan photoresist dsb.
-
Tolok ketebalan inframerah
Ukur kandungan lembapan, kuantiti salutan, filem dan ketebalan pelekat cair panas.
Apabila digunakan dalam proses gam, peralatan ini boleh diletakkan di belakang tangki gam dan di hadapan ketuhar, untuk pengukuran dalam talian ketebalan gam. Apabila digunakan dalam proses pembuatan kertas, peralatan ini boleh diletakkan di belakang ketuhar untuk pengukuran dalam talian kandungan lembapan kertas kering.
-
Tolok ketebalan dalam talian sinar-X (berat gram).
Ia digunakan untuk pengesanan ketebalan atau berat gram filem, kepingan, kulit tiruan, kepingan getah, aluminium & kerajang tembaga, pita keluli, fabrik bukan tenunan, bersalut celup dan produk sedemikian.
-
Tolok ketebalan tepi meterai sel
Tolok ketebalan untuk tepi pengedap sel
Ia diletakkan di dalam bengkel pengedap bahagian atas untuk sel kantung dan digunakan untuk pemeriksaan pensampelan luar talian bagi ketebalan tepi pengedap dan penilaian tidak langsung terhadap kualiti pengedap.
-
Sistem penjejakan & pengukuran yang disegerakkan berbilang bingkai
Ia digunakan untuk salutan katod & anod bateri litium. Gunakan berbilang bingkai pengimbasan untuk penjejakan & pengukuran elektrod yang disegerakkan.
Sistem pengukur berbilang bingkai adalah untuk membentuk bingkai pengimbasan tunggal dengan fungsi yang sama atau berbeza ke dalam sistem pengukuran dengan membuat teknologi penjejakan yang tersendiri, untuk merealisasikan semua fungsi bingkai pengimbasan tunggal serta fungsi penjejakan & pengukuran yang disegerakkan yang tidak boleh dicapai oleh bingkai pengimbasan tunggal. Mengikut keperluan teknologi untuk salutan, bingkai imbasan boleh dipilih dan 5 bingkai imbasan disokong paling banyak.
Model biasa: alat pengukur ketumpatan permukaan segerak β-/X-ray bingkai dua, tiga bingkai dan lima bingkai: bingkai dua bingkai X-/β, tiga bingkai dan lima bingkai disegerakkan CDM ketebalan & peralatan pengukur ketumpatan permukaan.
