Tolok ketebalan gangguan optik

Aplikasi

Ukur salutan filem optik, wafer suria, kaca ultra-nipis, pita pelekat, filem Mylar, pelekat optik OCA, dan photoresist dsb.


Butiran Produk

Tag Produk

Apabila digunakan dalam proses pelekatan, peralatan ini boleh diletakkan di belakang tangki pelekat dan di hadapan ketuhar, untuk pengukuran dalam talian ketebalan pelekat, dan pengukuran dalam talian ketebalan salutan filem pelepas, dengan ketepatan yang sangat tinggi dan aplikasi yang luas, khususnya sesuai untuk pengukuran ketebalan objek berbilang lapisan telus dengan ketebalan yang diperlukan hingga ke paras nanometer.

Prestasi produk/parameter

Julat ukuran: 0.1 μm ~ 100 μm

Ketepatan pengukuran: 0.4%

Kebolehulangan pengukuran: ±0.4 nm (3σ)

Julat panjang gelombang: 380 nm ~ 1100 nm

Masa tindak balas: 5~500 ms

Tempat pengukur: 1 mm ~ 30 mm

Kebolehulangan pengukuran pengimbasan dinamik: 10 nm


  • Sebelumnya:
  • Seterusnya:

  • Tulis mesej anda di sini dan hantar kepada kami