Produk
-
Siri relau terowong pembakar vakum
Ruang relau terowong disusun dalam jenis terowong, dengan susun atur struktur padat, Keseluruhan mesin termasuk troli pemanas, ruang (tekanan atmosfera + vakum), injap plat (tekanan atmosfera + vakum), laluan feri (RGV), stesen penyelenggaraan, pemuat / pemunggah, talian paip dan logistik (pita).
-
Tolok ketebalan gangguan optik
Ukur salutan filem optik, wafer suria, kaca ultra-nipis, pita pelekat, filem Mylar, pelekat optik OCA, dan photoresist dsb.
-
Tolok ketebalan inframerah
Ukur kandungan lembapan, kuantiti salutan, filem dan ketebalan pelekat cair panas.
Apabila digunakan dalam proses gam, peralatan ini boleh diletakkan di belakang tangki gam dan di hadapan ketuhar, untuk pengukuran dalam talian ketebalan gam. Apabila digunakan dalam proses pembuatan kertas, peralatan ini boleh diletakkan di belakang ketuhar untuk pengukuran dalam talian kandungan lembapan kertas kering.
-
Tolok ketebalan dalam talian sinar-X (berat gram).
Ia digunakan untuk pengesanan ketebalan atau berat gram filem, kepingan, kulit tiruan, kepingan getah, aluminium & kerajang tembaga, pita keluli, fabrik bukan tenunan, bersalut celup dan produk sedemikian.
-
Tolok ketebalan tepi meterai sel
Tolok ketebalan untuk tepi pengedap sel
Ia diletakkan di dalam bengkel pengedap bahagian atas untuk sel kantung dan digunakan untuk pemeriksaan pensampelan luar talian bagi ketebalan tepi pengedap dan penilaian tidak langsung terhadap kualiti pengedap.
-
-
Sistem penjejakan & pengukuran yang disegerakkan berbilang bingkai
Ia digunakan untuk salutan katod & anod bateri litium. Gunakan berbilang bingkai pengimbasan untuk penjejakan & pengukuran elektrod yang disegerakkan.
Sistem pengukur berbilang bingkai adalah untuk membentuk bingkai pengimbasan tunggal dengan fungsi yang sama atau berbeza ke dalam sistem pengukuran dengan membuat teknologi penjejakan yang tersendiri, untuk merealisasikan semua fungsi bingkai pengimbasan tunggal serta fungsi penjejakan & pengukuran yang disegerakkan yang tidak boleh dicapai oleh bingkai pengimbasan tunggal. Mengikut keperluan teknologi untuk salutan, bingkai imbasan boleh dipilih dan 5 bingkai imbasan disokong paling banyak.
Model biasa: alat pengukur ketumpatan permukaan segerak β-/X-ray bingkai dua, tiga bingkai dan lima bingkai: bingkai dua bingkai X-/β, tiga bingkai dan lima bingkai disegerakkan CDM ketebalan & peralatan pengukur ketumpatan permukaan.
-
Sistem penjejakan & pengukuran yang disegerakkan lima bingkai
Lima bingkai imbasan boleh merealisasikan pengukuran penjejakan segerak untuk elektrod. Sistem ini tersedia untuk kuantiti salutan bersih filem basah, ukuran ciri kecil dan lain-lain.
-
Penguji bateri penggulungan dalam talian X-ray
Peralatan ini disambungkan dengan talian penghantar hulu. Ia boleh mengambil sel secara automatik, meletakkannya ke dalam peralatan untuk pengesanan gelung dalaman, merealisasikan pengisihan automatik sel NG, mengeluarkan 0k sel dan meletakkannya ke talian penghantar secara automatik dan menyuap ke peralatan hiliran, untuk merealisasikan pengesanan automatik sepenuhnya.
-
Penguji bateri berlamina dalam talian X-ray
Peralatan ini disambungkan dengan talian penghantar huluan, Ia boleh mengambil sel secara automatik, meletakkannya ke dalam peralatan untuk pengesanan gelung dalaman, merealisasikan pengisihan automatik sel NG, mengeluarkan sel OK dan meletakkannya ke saluran penghantar secara automatik dan menyuap ke peralatan hiliran, supaya dapat merealisasikan pengesanan automatik sepenuhnya.
-
Penguji bateri silinder dalam talian X-ray
Melalui sumber X-ray, peralatan ini akan mengeluarkan X-ray, yang akan menembusi bateri di dalam dan diterima oleh sistem pengimejan untuk pengimejan dan genggaman imej. Kemudian, imej akan diproses oleh perisian dan algoritma yang dibangunkan secara bebas, dan melalui pengukuran dan pertimbangan automatik, produk yang akur dan tidak akur boleh ditentukan dan produk yang tidak akur akan dipilih Bahagian hadapan dan belakang peralatan boleh dilabuhkan dengan barisan pengeluaran.
